UDC 621.382 : 621.375 L 56 中华人民共和国国家标准 GB/T 14115--93 54C 半导体集成电路采样/保持放大器 测试方法的基本原理 General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits 国家标准全文公开系统专用，此文本仅供个人学习、研究之用， 未经授权，禁止复制、发行、汇编、翻译或网络传播等，侵权必究。 全国标准信息公共服务平台：https：//stdl.samr.gov.cn 1993-01-21发布 1993-08-01实施 国家技术监督局发布 中华人民共和国国家标准 半导体集成电路采样/保持放大器 GB/T 14115--93 测试方法的基本原理 General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits 1主题内容与适用范围 本标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试。 2引用标准 GB3439半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 GB3442半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理 3总的要求 3.1若无特殊说明，测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定。 3.2测试期间，施于被测器件的电参量应符合器件详细规范的规定。 3.3测试期间，应避免外界干扰对测试精度的影响，测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的 规定。 3.4被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。 3.5若有要求时，应按器件详细规范规定的顺序接通电源。 3.6测试期间，被测器件应按器件详细规范规定连接外围电路和补偿网络。 3.7如需外接保持电容C时，保持电容器应符合测试要求。在测试电路安排上应尽量减小外电路对 保持电容的馈通与泄漏。 3.8若电参数值是由几步测试的结果经计算确定时，这些测试的时间间隔应尽可能短。 4参数测试 4.1线性误差EL 4.1.1目的 测试器件在采样状态时实际转移特性曲线与最佳拟合直线间的最大相对偏差。 4.1.2测试原理图 测试原理图如图1所示。 国家技术监督局1993-01-21批准 1993-08-01实施 5AG 1 GB/T 14115-93 电源 直流信号源 被测器件 直流电压表 控制信号 失调补偿网络 图 1 4.1.3测试条件 测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定： a. 环境温度； b. 电源电压； c. 失调补偿网络； d. 外接保持电容（适用时）； e. 控制信号电平； f. 满量程输入电压和满量程输出电压； g. 负载电阻。 4.1.4 测试程序 4.1.4.1 按规定的环境条件，将被测器件接入测试系统中。 4.1.4.2 接通规定的电源电压和直流信号源，施加控制信号，使器件处于采样状态。 4.1.4.3 调节直流信号源，使器件的输入电压为零，调节失调补偿网络，使器件输出电压为零。 4.1.4.4在规定的满量程输入电压范围内，逐步调节器件的输入电压Vi(i)，并测出相应于每一输入电 压的输出电压Vo()。 4.1.4.5根据4.1.4.4测试结果，确定最佳拟合直线。 4.1.4.6 找出实际特性曲线与最佳拟合直线之间的最大偏差|△Voi|max。 4.1.4.7 按式（1)计算线性误差EL： ↓AVoi max EL Vrso (1) 式中：VFso一一满量程输出电压。 4.2增益误差EG 4.2.1目的 测试器件在采样状态时实际满量程输出电压与规定的满量程输出电压的相对偏差。 4.2.2测试原理图 测试原理图如图2所示。 2