ICS 31.200 CCS L 56 中华人民共和国国家标准 GB/T 42969—2023 元器件位移损伤试验方法 Displacement damage test method for components 2024-01-01实施 2023-09-07发布 国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会 GB/T42969—2023 前言 本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则 第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。 本文件由全国半导体器件标准化技术委员会（SAC/TC78）归口。 本文件起草单位：中国空间技术研究院、中国工程物理研究院核物理与化学研究所、西北核技术研 究院，中国电子科技集团公司第四十四研究所、中国科学院新疆理化技术研究所扬州天学。 本文件主要起草人：罗磊、于庆奎、唐民、朱恒静、张洪伟、郑春、陈伟、丁李利、汪朝敏、李豫东、文林、 薛玉雄。 1
GB-T 42969-2023 元器件位移损伤试验方法
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