GB-T 43061-2023 半导体集成电路 PWM控制器测试方法 -在线下载 -pdf文件-43.240.13.184

ICS 31.200 CCS L 55 中华人民共和国国家标准 GB/T 43061—2023 半导体集成电路 PWM控制器测试方法 Semiconductor integrated circuitsTest methods of PWM controller 2023-09-07发布 2024-04-01实施国家市场监督管理总局发布国家标准化管理委员会 GB/T 43061—2023 目次前言 1 范围 2 规范性引用文件 3 术语和定义般测试要求 4.1 测试环境要求 4.2 测试注意事项 4.3 测试仪器和设备测试条件和测试程序 5 5.1 基准源单元 5.1.1 基准电压（VRE 5.1.2 电压调整变化量（Sv） 5.1.3 电流调整变化量（S1) 5.1.4 基准电压温度系数（S) 5.1.5 输出电压总体变化范围（VTOT） 5.1.6 输出噪声电压（Vno） 10 5.1.7 输出短路电流（Ios） 1 5.2 振荡器单元 12 5.2.1 初始频率(f1) 12 5.2.2 电压稳定性（fv） 13 5.2.3 温度稳定性（f 5.2.4 频率总体变化范围（fToT 15 5.2.5 最低工作频率（fmin） 16 5.2.6 最高工作频率（fmax 17 5.2.7 输出脉冲高电平电压[VoH(os 18 5.2.8 输出脉冲低电平电压[VoL(ose) 19 5.2.9 输出脉冲电压幅度[VoA(osS 19 5.2.10 输出脉冲宽度（tw） 20 5.2.11 锯齿波峰值电压[Vp(ram) 21 5.2.12 锯齿波谷值电压[V、 22 5.2.13 锯齿波谷-峰值电压幅度[V 22 5.2.14同步端输人电流[Ii(sync 23 5.2.15 同步阈值电压[VTHC 24 1

GB-T 43061-2023 半导体集成电路 PWM控制器测试方法

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